摘要: 描述了一种评估不同性质的辐射诱发不同DNA损伤的理论模型。模型没有严格区分直接与间接效应而是协同考虑的。计算出的初始双链断裂(DSB)产额与测量结果相一致。也研究了其它DNA多种与单一损伤。当辐射发生质的改变时,损伤的数量与质量都会发生改变。低LET辐射时,损伤中的多种损伤比例约为30%,随着电离密度的增加而大幅度上升。